XJTAG, ein führender Anbieter von Boundary Scan Test- und Entwicklungssystemen nach IEEE Standard 1149.1, hat heute die Version 2.0 ihrer beliebten BSC-Entwicklungswerkzeuge vorgestellt. In Bezug auf Geschwindigkeit und Genauigkeit beim Test von gedruckten Schaltungen wird dieses System einen neuen Standard setzen.

Die neue Version des XJTAG-Systems, das von Elektronik-Entwicklern und –Herstellern während des gesamten Lebenszyklus eines Produktes für die Fehlersuche, den Test und die Entwicklung auch komplexer Boards mit Ball-Grid-Array-Gehäusen genutzt werden kann, wird vom 13. bis 16. November 2007 auf der Productronica (Halle A1, Stand 448) in München vorgestellt.

XJTAG 2.0 bringt ein ganzes Paket voller neuer Funktionen mit sich. Darunter befindet sich eine automatische Erkennung der JTAG-Chain inkl. Setup, ein eingebauter Netzlisten-Explorer, ein optimierter Speichertest und eine Analyse der Testabdeckung (DFT) in Echtzeit. Im Paket ist weiterhin eine ständig wachsende Bibliothek von bausteinspezifischen Test-Skripten vorhanden, die Integration von LabVIEW wurde verbessert und es wird nun der Virtex-5-FPGA-Monitor von Xilinx unterstützt.

Simon Payne, Generaldirektor bei XJTAG, sagte: „Entwickler wählen das Boundary Scan System von XJTAG weil es so einfach zu bedienen ist und weil sie alles für die Fehlersuche und den Test komplexer Elektronikboards zu einem festen Preis ohne versteckte Zusatzkosten erhalten.“

„Während der Entwicklung der neuen Version standen wir in engem Kontakt mit unserem schnell wachsenden Kundenstamm. Das Feedback sowohl der Entwicklungsingenieure wie auch der Hersteller wurde berücksichtigt, um speziell durch eine erweiterte XJEase-Programmierumgebung den Kunden von der Komplexität des JTAG-IEEE1149.1-Standard zu entbinden.“  

Mit Version 2.0 steht dem  XJTAG Anwender ein Drag-and-Drop-Interface zur Verfügung, mit dem die Erkennung der JTAG-Chain und der Setup-Prozess automatisiert werden. Dadurch spart der Entwickler Zeit und Aufwand. Der Benutzer verbindet ganz einfach seinen Computer über USB 2.0 per XJLink Hardware-Modul mit der Test-Einheit, erzeugt ein neues Projekt und fügt die Zielhardware hinzu. Das XJTAG-System erkennt nun den Scan-Pfad und ordnet die passenden BSDL-Dateien dem JTAG-Baustein-Code zu. Außerdem wird das Massenetz identifiziert und hilfreiche Vorschläge über andere Komponenten generiert.

Weiterhin erlaubt diese intelligente Setup-Funktion dem Board-Entwickler eine schnelle und einfache Klassifizierung aller Nicht-JTAG- oder Cluster-Bausteine in der Schaltung. So können z. B. mit einem einzigen Klick alle Pull-up- oder Pull-down-Widerstände oder beliebige Bausteintypen gruppiert werden, um während des Setups Eingaben zu beschleunigen und zu vereinfachen. XJTAG 2.0 verfügt über einen eingebauten Netzlisten-Explorer. Über dieses komfortable Interface lassen sich die Verbindungen der Bausteine auf dem Board untereinander darstellen.

Weitere Verbesserungen sind der optimierte Speichertest, die Analyse der Testabdeckung in Echtzeit, eine erweiterte Bibliothek mit bausteinspezifischen Testskripten, die verbesserte Integration in LabVIEW und andere führende Testumgebungen. XJTAG unterstützt nun außerdem den Virtex-5-FPGA-Systemmonitor von Xilinx, um die Spannungsversorgung zu überwachen oder um eine Temperaturregelung der 65-nm-Virtex-5-FPGAs mit JTAG-Port realisieren zu können.

Dominic Plunkett, Technologie-Chef  bei XJTAG, sagt: “In einem Umfeld, in dem Entwicklungen möglichst sofort beim ersten Mal funktionieren müssen, benötigen Entwickler eine Testlösung, die nicht nur die Testabdeckung maximiert sondern auch die Zeit für die Fehlersuche minimiert. Mit XJTAG können Entwickler wertvolle Teststrategien entwickeln, sie aufzeichnen, verfeinern und ständig wieder verwenden und das während des gesamten Entwicklungszyklus. Auch mit XJTAG 2.0 bieten wir unseren Kunden ein „All-in-one“-Boundary-Scan-System, auf dem sie ihre Boards in Minuten konfiguriert haben und nicht in Stunden, Tagen oder Wochen wie dies bei einigen anderen traditionellen Systemen der Fall ist.“

Das XJTAG Entwicklungssystem ist eine kosteneffiziente “Out-of-the-box”-Lösung für die Fehlersuch, den Test und die Programmierung von elektronischen Schaltungen und Systemen über den gesamten Produktlebenszyklus. XJTAG reduziert die Zeit und die Kosten für die Board Entwicklung und das Prototyping durch den Einsatz von Testläufen, der Prüfung von CAD-Netzlisten, der schnellen Erzeugung von komplexen Funktionstests und der Wiederverwendung von Testskripten in unterschiedlichen Schaltungen mit gleichen Bausteinen. Das alles zu einem möglichst frühen Zeitpunkt in der Entwicklung.

XJTAG ermöglicht dem Entwickler den Test nahezu aller Komponenten in der Schaltung (sowohl Boundary Scan als auch Cluster), inclusive BGA und Chip-Scale-Geometrien wie SDRAMs, Ethernet-Controller, Video-Controller, Flash-Speichern, FPGAs und Mikroprozessoren. Mit XJTAG ist der Entwickler in der Lage, FPGAs, CPLDs und Flash-Speicher im System zu programmieren (ISP).

Das XJTAG System besteht aus einer Suite von leicht zu bedienenden Software-Tools. XJEase ist eine Hochsprache, die die gesamte Funktionalität bietet, um komplette JTAG-Testumgebung zu programmieren. XJAnalyser ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Schaltkreis-Visualisierung, das eine einfache grafische Darstellung der Zustände alles JTAG-Pins bietet. XJRunner ist die Komponenten des XJTAG Entwicklungssystems, die für die Produktion optimiert und speziell für den Einsatz bei Vertragsherstellern oder in Produktionsstätten entwickelt wurde.

Zum Entwicklungssystem gehört außerdem XJLink, ein USB-2.0-Interface, mit dem der Computer an die Test-Einheit angeschlossen wird. Im XJLink befindet sich auch die XJTAG-Lizenz. Dadurch ist der Entwickler in der Lage, das System auf unterschiedlichen Computern einzusetzen. XJDemo ist eine vollständig bestückte Platine, die dem Kunden in Verbindung mit den Tutorials einen schnellen Einstieg und ein gutes Verständnis des XJTAG-Systems ermöglicht. Zum XJTAG Professional Development System gehört auch noch das XJIO-Board, mit dem sich die Testabdeckung verbessern lässt. Dazu werden beliebige Signale auf der Schaltgruppe in eine JTAG-Baugruppe eingelesen.

Die Preise für ein XJTAG-System liegen zwischen € 5.075 und € 14.355 Euro.

Für weitere Informationen über das XJTAG-System wenden Sie sich an:

gsh Sytemelectronic GmbH: Tel.  +49 (0)89 834-3047, Fax: +49 (0)89 834-3048
E-Mail: info@gsh-systemelectronic.de  Email
Internet: www.gsh-systemelectronic.de 

XJTAG: +44 (0)1954213888, Fax. +44(0)1954211565 oder

E-Mail: enquiries@xjtag.com

Internet:  www.xjtag.com

XJTAG verfügt über ein weltweites Netz von Distributoren in Europa, Fernost, Nordamerika, Nahost, Australien und Asien.

Bildmaterial ist unter www.xjtag.com/company/press erhältlich.

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Über XJTAG (www.xjtag.com)

XJTAG ist ein führender Anbieter von Boundary Scan Entwicklungswerkzeugen nach dem IEEE Standard 1149.1. Ihr JTAG-Entwicklungswerkzeug bietet eine wettbewerbsfähige Lösung für Entwickler von elektronischen Schaltgruppen und Systemen. Mit XJTAG verkürzt sich der Entwicklungs- und Herstellungsprozess durch den Einsatz von früher Testentwicklung, Design Verifizierung, der schnellen Entwicklung von Funktionstests und der Wiederverwendbarkeit von Testroutinen bei Schaltungen, die dieselben Bausteine verwenden.

XJTAG hat ihren Sitz in Cambridge, UK, und ist Teil der Cambridge Technology Group.

Was ist JTAG?

Fortschritte bei der Chipentwicklung, eine höhere Chipdichte und der verstärkte Einsatz von BGA-Gehäusen und Chip-Scale-Geometrien machen den Einsatz traditioneller Testssyteme kaum  noch möglich.  Um dieser Problematik gerecht zu werden, schlossen sich einige der weltweit führenden Chiphersteller zusammen und gründeten die Joint Test Action Group (JTAG). Die Erkenntnisse dieser Gruppe wurden vom Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE) zum Standard 1149.1 zusammengefasst: Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture.

Pressekontakt  (für XJTAG):

Martin Brooke     

Martin Brooke Associates

Tel: +44 (0) 1223 244500

Email: martin.brooke@mba-pr.com